2022/6/13 17:39:24
来源： 灿芯半导体
近日，灿芯半导体日前宣布推出高精度16位逐次逼近型（16bit SAR）ADC。该IP首个测试芯片基于中芯国际55nm工艺流片成功，现已完成EVB测试，可提供给客户进行评估。
该IP采样率为1MHz, ENOB（有效位）可达14bit，通常情况下其DNL（微分线性误差）介于-0.4LSB至0.47LSB之间，INL（积分线性误差）居于-1.8LSB至2.2LSB之间，其典型功耗是4.25mA，性能指标处于国内领先水平。
灿芯半导体深耕高精度12/14/16 bit SAR ADC及高速(>150M) PIPELINE ADC，为工业级高精度应用提供了更丰富的选择。基于SAR ADC技术的定制芯片累计出货已近3000万颗，可广泛应用于工业控制、能源及AIoT等领域。
“16bit高精度SAR ADC的发布，对灿芯半导体而言，是技术层面上的又一次突破，” 灿芯半导体工程副总裁刘亚东表示，“另外，灿芯半导体还不断拓展创新，将这个技术实施到SMIC 40nm工艺，同时不断迭代优化，减少面积功耗，提升采样速率，力争满足客户的多层次需求。”
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