——在成熟的 V93000 平台上，新卡进一步扩展了高并行大同测的能力

作为半导体测试设备的龙头企业，爱德万测试推出了下一代SoC测试平台V93000 EXA Scale，其中包含了高速的PS5000通用数字板卡以及超高精度的XPS256电源板卡，在协助用户降低测试成本的同时提升了测试效率。新的平台全面兼容 Wave Scale RF 从10MHz 到 70GHz 整套射频方案，支持用户从容应对5G时代的测试挑战。

在高性能计算的应用领域，异质多芯片封装可以克服AI和云计算类芯片面临的挑战和难点。另一方面，量产测试也因此面临新的挑战。

这些挑战表现在，晶圆测试需要更高的测试质量以避免失效芯片进入下一级引起昂贵的多芯片封装的整体失效。而在封装后的成品测试方面，由于Die间通过封装内部互联，需要有新的测试方法来保证测试的覆盖率，例如通过HSIO来进行Scan的测试。2.5D封装的HPC芯片测试，由于更多的芯片的堆叠使散热更加困难，需要Tester和Handler配合进行主动的温度控制。这里，爱德万测试提供了从Handler到Tester的端到端的完备方案，更好地为先进封装的发展保驾护航。

全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试在 Wave Scale MX 系列产品中增加了高分辨率， 高精度的混合信号板卡，扩展了在模数和数模转换器系列的测试范围。 新的 Wave Scale MX 高 分辨率卡结合了业界最高的并行测试功能与最可靠的 AC 和 DC 性能。 这些属性使得爱德万测试 的 V93000 测试平台在测试模拟和数字波形转换器时能满足越来越苛刻的低失真，精度和线性度要求，同时还有助于降低消费音频类和 IoT 芯片的测试成本，缩短上市时间。

“我们的新型高分辨率 Wave Scale MX 卡具有最高的通道数和密度，“爱德万测试集团SoC业务部高级副总裁 Hans-Juergen Wagner 说，“该卡可以支持更广泛的信号范围，并支持音频组件输出更高的电平。”

这块板卡提供多达32个仪器——16个任意波形发生器（AWG）和16个数字化仪，提供高性能和完全独立的 AC 和 DC 测试，用于单端或差分信号。 它自身带有参考源的温度补偿功能，可确保长时间的最高直流稳定性，每个单端信号有独立的参考地信号来实现最高保真度。每个通道附加的参数测量单元（PMU）可确保高精度的直流测量。 这块板卡还可以处理摆幅高达20 Vpp的单端信号和40 Vpp的差分信号。 所有功能都由测试处理器芯片软件控制，以实现最大吞吐量和可重复性。

Wave Scale MX 卡的创新架构可以用 32 个具有完全不同的设置的仪器进行同步测试，因为每个仪器都具有独享资源。 由此带来的芯片内并行和多芯片高同测效率显著降低了复杂混合信号芯片 的测试成本。

爱德万测试这次推出了两种版本 Wave Scale MX 的板卡：一种是纯高分辨率资源的板卡，另一种是混合板卡，将高分辨率和高速功能结合在一张卡上。

现在两种版本的高分辨率 Wave Scale MX 板卡均已开始销售。

爱德万测试简介

作为一家世界级技术公司，爱德万测试是半导体行业自动测试设备(ATE)的领先制造商，也是电子仪器和系统设计生产中所用测试系统的主要制造商。其领先的系统和产品应用于世界上最先进的半导体生产线。公司 还致力于面向新兴市场的研发活动，使这些市场从纳米技术和太赫兹技术的进步中受益，并推出了对光掩膜制 造至关重要的多图像测量扫描式电子显微镜，以及突破性的 3D 成像和分析工具。爱德万测试于 1954 年成立 目前其分公司遍及全球各地。www.advantest.com