人工智能和自动驾驶等快速发展的应用对下一代集成电路 (IC) 的性能提出了更高的要求，IC 设计规模正在以前所未有的速度增长，今天的IC设计已经可以集成数十亿个晶体管。对于 IC 工程团队而言， 大规模的IC 设计以及更高的复杂性，也意味着测试时间和成本的相应增加，同时，在每个设计中规划和部署DFT 结构和功能所需的工程工作量也会增长。

为了帮助芯片测试团队解决这些难题，Mentor, a Siemens business在其 Tessent™ TestKompress™ 软件中引入 Tessent™ Streaming Scan Network 技术。该解决方案包括嵌入式基础设施和自动化功能，可以将模块级 DFT 要求从顶层可使用的测试资源中独立开来，实现无需妥协的层次化DFT 流程，大幅简化 DFT 规划和实施，同时将测试时间缩短 4 倍。此方案完全支持重复单元式设计，并对相同内核进行了优化，是日益庞大的新兴计算架构的理想选择。

Mentor Tessent 芯片生命周期解决方案副总裁兼总经理 Brady Benware 表示：“由于设计规模、先进技术节点和使用模型要求的不断增加，IC 测试的复杂性也在持续提高，这对 IC 设计团队提出了严苛挑战。借助于新的 Tessent Streaming Scan Network，我们的客户能够减少测试实施的工作量，同时降低测试成本，为未来的设计做好准备。”

Tessent Streaming Scan Network 技术采用基于总线的扫描数据分发架构，可以同时测试任意数量的内核，实现高速的数据分配，高效地解决内核之间的不平衡问题，并以固定成本对任意数量的相同内核进行测试，从而大幅缩短测试时间。该技术还在每个内核中提供即插即用型接口，可以简化扫描的时序收敛，非常适合对接的重复单元。

该解决方案是由每个设计模块中的一系列主机节点相互连接而组成。每个主机可在模块中的网络和测试结构之间分发数据。该软件可以自动进行实实施、向量生成、以及故障反向映射流程，DFT 工程师可为每个模块充分优化 DFT 测试资源，无需担心对设计的其他部分产生影响，这将有助于降低实施的工作量。同时，该方案还通过对相同内核的优化处理、对消除测试数据的浪费、以及时分复用技术，显著减少了测试的数据量，缩短了测试时间。

三星电子设计技术团队副总裁 Sangyun Kim 表示:“通过在 Tessent TestKompress 中引入 Tessent Streaming Scan Network 技术，我们能够为客户提供可扩展的测试访问解决方案，无论是当今还是未来的先进IC 设计均可适用。Tessent Streaming Scan Network 无需很高的工作量，即可以使复杂设计具有高度可测试性。”

在Tessent TestKompress 产品中添加 Tessent Streaming Scan Network 功能是Mentor在先进分层 DFT 实施和测试数据带宽管理方面累积了十余年的研发成果，Mentor 与多家领先半导体制造商联合开发了该项技术。

Tessent Streaming Scan Network 可以与其他的Tessent DFT 产品完全兼容，可以与 Tessent Diagnosis 单元感知和版图感知的诊断功能结合使用，以提供端到端的缺陷检测和诊断解决方案。所有 Tessent DFT 产品均属于 Tessent Safe 生态系统，具有全套通过认证 的ISO 26262 文档，可用于所有的 ASIL ISO 26262 项目。