作为业界领先的半导体测试技术公司，爱德万测试（Advantest）近日在上海举行的 SEMICON China 2019 展览会上展示其搭载 V93000 平台针对人工智能（AI）芯片的测试解决方案,并发表关于AI芯片测试的技术论文，以应对多样化和快速增长的AI和高性能计算市场，同时展出其针对汽车市场的 T2000 IPS 系统和新增测试模块。 《半导体芯科技》在展会期间采访了爱德万测试公司，了解公司最新的产品技术以及业务发展动向。

爱德万测试拓展SLT 业务

爱德万测试(中国)管理有限公司副总裁夏克金博士介绍：爱德万测试刚刚收购了Astronics公司的SLT（系统级测试）业务部门Test Systems。Test Systems与爱德万测试现有的领先半导体自动测试设备（ATE）实现了业务互补，拓宽了爱德万测试在系统级测试领域的地位，系统级测试被认为是对大型消费类电子制造商而言越来越关键的一种测试模式。

爱德万测试现在提供 ATS 5034 系统级测试平台和 ATS 5030 老化测试平台。

ATS 5034系统级测试平台是大型全自动并行解决方案，采用基本标准控制端口，可以测试系统级微处理器，微控制器及嵌入系统，包括各种模块、SoC、SiP等封装形式。

ATS 5034系统级测试平台

ATS 5030 老化测试平台用于独立的半导体封装器件老化，可以同时并行测试数百个元器件，支持所有半导体封装，可以同时执行32种不同的工作程序，每个工作程序都有电压，温度，老化时间等测试配方，适用于多品种，小批量器件的老化测试。

夏克金博士说：爱德万测试致力于将测试解决方案扩展到整个半导体价值链，此次收购将使我们能更好，更及时地响应我们半导体客户不断增长的需求，为多元化的客户群提供更强大的解决方案，增加客户价值。

T2000 IPS服务于日益增长的汽车 IC市场

随着电动汽车的发展，提供支持更高电压的测试解决方案以及确保动力传动系零部件的可靠性变得越来越重要。针对电动汽车和混合动力汽车上的高功率模拟集成电路测试需求，爱德万测试在 T2000 平台上推出一系列多功能测试模块，以服务于日益增长的汽车 IC 市场。爱德万测试（中国）管理有限公司北京分公司测试技术部经理张可先生介绍：新型模块使 T2000 IPS 系统能够测试电动汽车动力系统中使用的高压和高功率器件。新的增强型多功能混合高压 (MMXHE: Enhanced Multifunction Mixed High Voltage）模块和增强型多功能浮动高功率 (MFHPE: Enhanced multifunction floating high power）模块利用爱德万测试创新的多功能测试通道设计，为测试资源分配提供了前所未有的灵活性，实现了大规模并行的高性能测试。

新的模块可以测量高达 ±300 V 的电压，电压精确度达 200 uV，符合精确控制 EV 的传感器的测试要求。 模块资源可以电压叠加，使客户能够调整测试的功能和提高测试生产的吞吐量，以达到 T2000IPS 预期的性能，并且这种多功能性也有助于确保 T2000 IPS 测试仪的长期可用性。

该系统的功能包括参数测量单元（PMU），高压数字 Pin 功能，差分电压测量，时间测量，潜在 工艺故障（Iddq）测试以及任意波形发生器（AWG）和数字转换器（Digitizer）功能，可以进行高度精确的测试。使用 T2000 IPS，单个测试通道可以实现多种测试功能，从而实现更快的处理和更高的吞吐量。

增强型多功能混合高压 (MMXHE: Enhanced Multifunction Mixed High Voltage）模块

增强型多功能浮动高功率 (MFHPE: Enhanced multifunction floating high power）模块

基于V93000 平台的 AI 测试解决方案

爱德万测试（中国）管理有限公司应用技术支持经理胡佳明先生介绍：V93000平台已经广泛应用于AI芯片测试。包括：自动驾驶汽车，边缘计算，脸部识别，5G和加密货币等。 V93000 平台的领先的扫描功能，最佳的电源（DPS）组合和高速器件使该系统赢得了这一测试领域约 80% 的市场的份额。

爱德万测试的通道卡系列使 V93000 系统的高性能和多功能性在业界保持领先地位。而当配备 Pin  Scale 1600B 板卡时，V93000 测试机更是成为业界标准。它实现了以深度存储矢量进行扫描，并且每个通道都可以达到 1.6 Gbps 的数据传输速率执行测试。对于需要数十至数百安培核心电源的芯片，V93000 可以利用 DC Scale UHC4T 卡实现同类最佳的负载阶跃响应。对于测试工作速率高达16Gbps 的高速芯片，Pin Scale 1600B，Pin Scale 9G 和 Pin Scale SL卡支持基于向量或伪随机二进制序列（PRBS）测试。

此外，爱德万测试是唯一一家提供集成测试单元的自动测试设备（ATE）供应商，该测试单元具有主动温控功能，可用于测试期间耗散数百瓦功率的芯片。通过将V93000 与M4872 机械手搭配，测试单元可以在控制被测器件（DUT）允许温度范围内的同时实现最大吞吐量。

SmartShell™软件直接从设计和向量生成环境中加速初始向量调试，并提供专用库来支持自动化测试程序生成。这些工具都有助于缩短新 IC 设计的上市时间。

胡佳明先生说：爱德万测试提供完整的 AI测试解决方案，V93000 Smart Scale 系统是高性能和低成本的测试方案，满足高端计算，图形和机器学习等芯片不断发展的测试需要。未来AI和5G是V93000业务的核心，爱德万测试将继续扩大在 AI 测试领域的全球领导地位。

Pin Scale 1600B板卡

（半导体芯科技  Sunnie Zhao 报道）