来源：Suny Li SiP与先进封装技术

集成，integration，是指将不同的功能单元汇聚到一起，并能实现其特定功能的过程，集成电路、系统集成是比较常见的名词。在这篇文章中，我们从历史（History）和未来（Future）两个方面来解析现代电子集成技术。1936、1947、1958 是电子集成技术历史上至关重要的三个年份。

集成的历史 

1936

晶体管虽然很神奇，但比较脆弱，需要保护，因此在晶体管发明的同一年，电子封装也出现了，其首要任务就是对晶体管进行保护，并通过引线进行晶体管内部和外部的电气连接，晶体管的发明同时也开创了微电子封装的历史。如今，先进封装技术如火如荼，成为业内关注的焦点，头部厂商都在积极研发先进封装技术，从台积电到三星，从Intel到AMD，从苹果到华为...... 人们难以想象，一直作为配角的封装，今天竟然也能站在舞台的中央。究其原因，还是因为其功能发生了重大的改变，电子封装从原本的芯片保护、尺度放大、电气互连三大基本功能，在进化为先进封装后，增加了提升功能密度、缩短互连长度、进行系统重构三大新功能。

原本属于边缘技术的封装在掌握了这三大独门绝技之后，竟然可以号令武林，成为半导体江湖中的炙手可热的门派。这就如同一个从穷乡僻壤边远乡村长大的孩子，通过努力学习，考进了一所优秀的大学，加上持续不懈地努力，掌握了先进的技术+能力，终有一天脱胎换骨，并成就一番事业。是的，封装的发展历史竟然也是如此的励志！

1958

杰克 • 基尔比身高两米，性情温和，是德州仪器一名工程师，他一直认为作为功能单元的晶体管、电阻、电容等元器件可以在一块芯片上制作出来，并为此做出了不懈的努力。

终于，在晶体管发明11年后的1958年，基尔比发明了地球上第一款块IC集成电路，内含5个元器件。

基尔比成功地实现了把所有元器件集成在一块半导体材料上的构想。罗伯特 • 诺伊斯风度翩翩，热情四溢，并且富有远见，是一位科技界和商业界的奇才。他在基尔比的基础上发明了平面工艺集成电路，使半导体产业由“发明时代”进入了“商用时代”。

作为工程师，诺伊斯研究出二氧化硅扩散技术和PN结隔离技术，并创造性地在氧化膜上制作出铝连线，使元件和导线连接一体，从而奠定了集成电路的平面工艺、为工业大批量生产打下了坚实的基础。

我想诺伊斯一定是受了爱斯勒的启发，将源于PCB上的平面工艺应用到了集成电路上，从而奠定了集成电路大规模制造的基础。

作为企业家，诺伊斯和摩尔一起创办了两家硅谷最传奇的公司：仙童和英特尔。

基尔比因为发明集成电路而获得2000年的诺贝尔物理学奖，颁奖词中写到：集成电路的发明为现代信息技术奠定了基础。诺伊斯1990年因为心脏病突发去世，从而与诺贝尔奖无缘，基尔比在领奖的时候说，如果诺伊斯还活着，一定会和他一起分享诺奖。有时候，人生的成功就在于你是否能被别人活得更久一些。

六十多年后的今天，一平方毫米的芯片上可以集成1亿只以上的晶体管，单个芯片上的晶体管数量已经达到数百亿量级。

下图依次是苹果公司的M1，M1 Pro，M1 Max，M1 Ultra芯片。

M1 芯片拥有 160 亿个晶体管，M1 Pro 拥有 337 亿个晶体管，M1 Max 拥有 570 亿个晶体管，M1 Ultra上的晶体数量多达1140亿。

今天，我们用手指在手机上轻松点击几下，就能完成各种操作和任务，不由得感慨技术的的进步，也由衷地感谢那些做出伟大发明的技术先贤们。

下面我们给出一张图，比较全面地概括了电子集成技术发展的历史：

粒子物理标准模型的奠基人，已故物理学家史蒂芬 • 温博格说过：Learn something about the history of science, or at a minimum the history of your own branch of science.

了解一些关于科学的历史，至少在你研究的领域要了解，就作为这篇文章前半部分的尾声吧！

集成的未来

人类既无法改变历史，也难以掌控未来，那生命的意义又何在呢？答案或许就是：相信未来！那么，集成的未来会是什么样子呢？ 探寻最小的功能细胞 

从集成电路发明以来，作为功能细胞的晶体管已经缩小了近百万倍。功能细胞的逐步缩小，有没有尽头呢？我个人认为，集成的尽头是：原子。我们知道，硅基半导体，1nm³中包含50个硅原子，并以此推断出7nm芯片中，单个晶体管包含的硅原子数量约为5000万个。随着晶体管工艺尺寸的缩小，单个晶体管中包含的硅原子数量肯定会越来越少。那么，少到什么是尽头呢？新型的晶体管，例如单原子晶体管，其最小结构宽度仅为一个原子，通过操作单个原子来控制晶体管的导通和关断。

据称，单原子晶体管的能耗将只有硅基晶体管的万分之一（1/10000），这对未来应用是一个决定性的优势。

打个比方，如果以单原子晶体管为功能细胞的芯片成功量产，这就意味着，现在每天一充的手机，可能需要几个月甚至几年才充一次电，想一想，待机焦虑完全消失，充电宝成为历史文物，这会是什么样的使用体验？不过，我们需要注意的可就是如何保护自己的眼睛了！

放大一下我们的视野，针对人类现有的文明来说，文明的尽头也是原子，如果打破原子，则必将带来毁灭！

功能密度增长的持续性 

在新书《基于SiP技术的微系统》第一章中，我提出了功能密度定律（Function Density Law），作为摩尔定律失效后，对电子集成技术的一种预期。其内容为：对于所有的电子系统来说，沿着时间轴，系统空间内的功能密度总是在持续不断地增大，并且会一直持续下去（For all electronic systems, along the time axis, the function density in system space is constantly increasing and will continue.）下图所示为功能密度曲线，从曲线中我们可以看出，在电子集成技术发展的初期，电子系统的功能密度随时间的变化是按照摩尔定律增长的，其曲线呈现指数增长趋势。随着摩尔定律的逐渐失效，其曲线逐渐平缓，但功能密度依然保持增长。

从长远来看，功能密度曲线是一条单调增长的波动曲线，随着新技术的不断涌现，在不同的历史阶段，其增长的斜率是不同的，甚至在某些特定的区间，可以以指数规律进行增长。

摩尔定律的指数增长规律决定了其物理意义上的不可持续性，而功能密度定律则是可以长期持续的。

由PPA进化到PPV 

我们判定集成电路先进性的重要标志是单位面积内集成的晶体管数量，在未来，判定的标准将变成单位体积内集成的功能单位的数量。做集成电路设计，有一个很重要的指标：PPA，分别指Power, Performance, Area。随着摩尔定律的失效，实现PPA指标也变得越来越难。因此，在后摩尔时代，PPA指标将进化成PPV指标，即Power, Performance, Volume。判断的标准也由单位面积变成了单位体积。这里我们所说的Volume，通常是指系统空间，电子集成先进性的判断标准从单个芯片的面积变为整个系统的空间。之前，我提出了Cubic IC的概念，对未来的芯片形态做了预期。Cubic IC简称CIC，是一种新型的集成电路设计思路。

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