爱德万测试 (Advantest) 参加3月在上海举办的半导体行业展会SEMICON China，展示多款针对中国半导体市场推出的先进产品和服务，包括创新的自动化 IC 机械手M4171， 专为模块与系统级封装测试而设计的T2000 AiR系统，针对最先进半导体产品、提供最广泛完整测试解决方案的V93000平台及新的Wave Scale MX 的板卡等。

爱德万测试（中国）管理有限公司经理，应用技术支持胡佳明先生和爱德万测试股份有限公司机电一体化/新产品副总经理苏勇鸿先生现场介绍了部分创新产品和技术。

M4171创新自动化 IC 机械手

爱德万测试最新推出的创新自动化 IC 机械手M4171，适用于半导体工程实验室且带有温控功能。M4171 机械手具有高效的温控解决方案，面向在芯片的设计与量产前期准备阶段，有高功耗温控测试需求的移动电子市场。在工程实验室，目前大多数的测试都是依靠手动操作，而 M4171 这一小型、单测的机械手可以自动进料和出料、控制温度并进行分选。同时它还具有主动温度控制(ATC: Active Thermal Control)这一通常只在大型、量产用机械手上才有的功能。

自动芯片处理、-45°C 到 125°C 的三温 ATC 以及远程操控使得 M4171 成为市场上独一无二的产品。它可以运行多模式的测试程序(一次接触下实现多温测试)，自动测试，自动 ID 测试，出料托盘的重测和手动测试等，这些功能都可以预定义，由用户自定义设置。

M4171 上的三温技术使得用户可以设定一个宽广的温度范围，大大提高了实验室的工程效率。系统采用芯片表面直接压着技术，能够快速升温和降温，温度变换时间比手动温控方案减少了 40%以上，有效提升工程测试效率。

M4171机械手与爱德万测试的 V93000 和 T2000 平台，以及其他测试平台均可兼容。它还有包括二维码识别、芯片角度旋转和高压着力可选件等其他功能。操作简便，可以预定义的用户界面直观且易用。M4171符合成本效益，能够提高客户机台的利用率。

专为模块与系统级封装测试而设计的T2000 AiR系统

爱德万测试最新测试解决方案T2000 AiR系统。该系统专为模块与系统级封装 (System in Package，SiP) 组件的测试而设计，这些模块与组件结合微控制器 (MCU) 和应用处理器，执行诸如通讯、电源管理和感测等功能。小型气冷式T2000 AiR应用范围广泛有弹性，除能满足研发阶段的低成本测试需求外，也适用于少量多样化生产时的测试环境。 此外，T2000 AiR亦可与M4800系列分类机整合，创造高效能、不占空间的测试解决方案，爱德万测试称之为「整合式零占位测试站」(Integrated Zero Test Station)。

Wave Scale MX 板卡

爱德万测试在 Wave Scale MX 系列产品中增加了高分辨率，高精度的混合信号板卡，扩展了在模数和数模转换器系列的测试范围。 新的 Wave Scale MX 高分辨率卡结合了业界最高的并行测试功能与最可靠的 AC 和 DC 性能。 这些属性使得爱德万测试的 V93000 测试平台在测试模拟和数字波形转换器时能满足越来越苛刻的低失真，精度和线性度要求，同时还有助于降低消费音频类和IoT 芯片的测试成本，缩短上市时间。

爱德万测试这次推出了两种版本 Wave Scale MX 的板卡：一种是纯高分辨率资源的板卡，另一种是混合板卡，将高分辨率和高速功能结合在一张卡上。

Wave Scale MX 卡的创新架构可以用 32 个具有完全不同的设置的仪器进行同步测试，因为每个仪器都具有独享资源。由此带来的芯片内并行和多芯片高同测效率显著降低了复杂混合信号芯片的测试成本。

爱德万测试的先进IC测试解决方案──V93000平台，其所涵盖的测试范围为业界最广，包括系统单芯片(SoC) IC、系统级封装组件、晶圆级芯片尺寸封装 (WLCSP)、基于射频的半导体、 3D组件架构和其他半导体设计等。 V93000装载了Wave Scale MX-HR与Wave Scale RF信道卡后性能更上层楼，其同测能力与生产率都提升至前所未有的表现，进而降低无线通信市场IC测试的成本，为未来的5G组件测试铺路。