中国顶级学术机构将使用爱德万测试的系统作为其唯一平台，以培养存储器技术人才

全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试日前已经向中国最高学术机构清华大学出售了两种型 号的工程系统--T5830ES 和 T5833ES 测试解决方案。该系统将安装在该大学的微电子和纳米电子系，用于 芯片设计教学，以培训学生如何测试串行外设接口（SPI）NOR 闪存器件，这些器件广泛应用在显示器和 移动电子设备中。

“我们很高兴能与清华大学保持合作伙伴关系，这对中国半导体生态系统具有重大影响力，并有助 于展现我们的测试人员支持中国设计公司的技术能力，”爱德万测试中国首席执行官徐勇说， “我们针对 先进存储器的测试解决方案已经推广向全国，以应对包括物联网和智能卡在内的高速增长的市场。”

T5830ES 存储器测试系统是针对各种闪存器件的高性价比测试而优化的工程系统。这个多功能平台 旨在提供高投资回报率（ROI）并降低用户的财务风险。它能够处理高达每秒 800 兆比特（Mbps）的数据 传输速率。

可扩展的内置大电流可编程电源（PPS）架构使系统能够对少引脚数和多引脚数闪存进行晶圆测试 和后道封装测试。与 T5800 系列产品的其他成员一样，它使用爱德万测试创新的 Tester-per-Site™设计构 建，该设计允许每个 Site 独立运行，测试时间更快，测试成本更低，并利用 FutureSuite™软件增强了可靠 性和可升级性。 

爱德万测试的多功能 T5833ES 工程测试设备专为包括 LPDDR3 DRAM，高速 NAND 闪存设备和下一代非易失性存储器在内的全系列存储器 IC 的晶圆测试和后道封装测试而设计。除了以高达每秒 2.4 千兆 比特（Gbps）的速度支持已知合格裸片（KGD）测试外，T5833ES 还凭借高效灵活的 Site  CPU 架构，可 配置多个 CPU 用以控制测试进程使最优化。

该测试系统提供业界领先的高速失效地址存储功能与失效分析功能，又称存储器冗余功能。这两项 功能皆可依照需求加以调整扩展，例如添加更多的 CPU 用以修复分析计算。